飛行時(shí)間質(zhì)譜儀(TOF-MS)是一種用于氣相、液相和固相樣品分析的高分辨率質(zhì)譜儀。TOF-MS是基于離子在時(shí)間和空間上的飛行時(shí)間(TOF)和質(zhì)量-電荷比(m/z)比率的原理來工作的。分析過程分為游離和檢測(cè)兩個(gè)階段。在游離階段,樣品通過電離源被電離成離子,并加速成為高能離子。這些離子隨后進(jìn)入質(zhì)譜儀的游離區(qū),其中包含了一個(gè)電場(chǎng),在該電場(chǎng)中離子加速到所需能量。因?yàn)椴煌碾x子具有不同的m/z比率,所以它們將具有不同的速度。
一旦離子被加速到足夠高能量,它們將進(jìn)入飛行區(qū)域。在該區(qū)域,這些離子以不同的速度到達(dá)檢測(cè)器。根據(jù)m/z比率的不同,離子將到達(dá)檢測(cè)器的不同位置,越重的離子擁有更長(zhǎng)的TOF。檢測(cè)器會(huì)在到達(dá)時(shí)記錄離子的信號(hào)。TOF-MS記錄到達(dá)檢測(cè)器的每個(gè)離子的TOF,并將其轉(zhuǎn)換為m/z比率。TOF-MS按照m/z比率展示離子的信號(hào)在m/z比率的質(zhì)譜圖上。這種TOF-MS技術(shù)的一個(gè)主要優(yōu)點(diǎn)是其高靈敏度、高分辨率和高速率的分析。這種技術(shù)也可以與其他技術(shù)如液相色譜(LC)、氣相色譜(GC)和原子吸收光譜(AAS)結(jié)合使用,以更深入地分析樣品。
飛行時(shí)間質(zhì)譜儀的使用方法:
1.準(zhǔn)備樣品:準(zhǔn)備待測(cè)物質(zhì)的樣品,并將其放入樣品室。
2.建立電離源:將電離源與質(zhì)譜儀連接,打開電離源并進(jìn)行初始化。
3.確定碎片采集時(shí)間:設(shè)定質(zhì)譜儀的碎片采集時(shí)間,以便實(shí)現(xiàn)采集數(shù)據(jù)的效果。
4.啟動(dòng)掃描:開始掃描樣品,并記錄數(shù)據(jù)。
5.分析數(shù)據(jù):將數(shù)據(jù)輸入計(jì)算機(jī)中,通過專業(yè)軟件進(jìn)行分析,從而得出分析結(jié)果。
6.校準(zhǔn)儀器:定期校準(zhǔn)飛行時(shí)間質(zhì)譜儀,以確保其精度和準(zhǔn)確性。
7.整理報(bào)告:整理分析結(jié)果,生成相應(yīng)的報(bào)告,向用戶提供分析數(shù)據(jù)。